渦流混合及磁珠科技

核心功能與特色

• 粒徑測量 (Dynamic Light Scattering)

        1.自動角度選擇：避免因手動操作造成的誤差。

        2.MAPS 模式 (Multi-Angle Particle Sizing)：多角度量測，提供最高的峰值解析度。

        3.測量範圍：1.3 nm – 100 µm，涵蓋奈米至微米級樣品。

• Zeta 電位測量 (Electrophoretic Light Scattering)

        1.cmPALS 專利技術：持續監測相位分析光散射，減少老化效應的影響。

        2.Omega Cuvette 創新設計：最大限度降低電場梯度 → 再現性可達 ±3%，並提供優良的 Zeta 電位測量範圍。

• 即時樣品監控

        1.連續穿透度監測：即時偵測沉澱、結塊 → 減少錯誤，提升數據可靠性。

• 光學模組

        1.螢光濾光片：可測帶螢光背景的樣品。

        2.偏振濾光片：增強訊號品質，支援粒子濃度測量。

適用應用領域

• 奈米材料科學
• 生物醫藥
• 食品與化妝品
• 化學工程及材料工程

使用實績與成果

• 奈米金的粒徑及分散性分析
• 氧化鐵磁珠的粒徑及表面電荷分析